Publicación: Informe Técnico 152: Detección automática de defectos en madera aserrada: principios y metodología de evaluación
| dc.contributor | Instituto Forestal (Chile) | |
| dc.contributor.author | Fernández G., Cristián | |
| dc.contributor.author | Mancinelli Z., Carlos | |
| dc.date.accessioned | 2018-09-25T14:23:13Z | |
| dc.date.available | 2018-09-25T14:23:13Z | |
| dc.date.created | 2011-01-28 | |
| dc.date.issued | 2000 | |
| dc.description | 48 páginas | |
| dc.description.abstract | Informe que forma parte de los resultados obtenidos por el proyecto FDI/CORFO - INFOR: "Automatización y optimización del proceso de trozado y clasificado de piezas de madera para remanufacturas destinadas a exportación. Uno de los objetivos más destacados fue la transferencia de las tecnologias analizadas, lo que se concretó en el taller denominado "Principios y aplicaciones de escáner para la detección de defectos en madera aserrada". | |
| dc.identifier.other | https://doi.org/10.52904/20.500.12220/6631 | |
| dc.identifier.uri | https://bibliotecadigital.infor.cl/handle/20.500.12220/6631 | |
| dc.language | Español | |
| dc.publisher | INFOR | |
| dc.relation.ispartofseries | Informe Técnico | |
| dc.subject | Chile | |
| dc.subject | Clasificacion de la madera | |
| dc.subject | Defectos de la madera | |
| dc.subject | Elaboración de la madera | |
| dc.subject | Escaner | |
| dc.subject | Madera aserrada | |
| dc.subject | Metodología de evaluación | |
| dc.title | Informe Técnico 152: Detección automática de defectos en madera aserrada: principios y metodología de evaluación | |
| dc.type | Libro | |
| dspace.entity.type | Publication | |
| infor.id | 14326 | |
| infor.lugardepublicacion | Concepción, Chile | |
| infor.mfn | 8125 | |
| infor.notas | 1. Introducción -- 2. Sistemas de escáner para la detección de defectos superficiales -- 2.1 Antecedentes generales -- 2.2 Aplicación de la inspección automática de madera -- 2.3 Representación digital de imágenes -- 2.4 Fuentes de iluminación -- 2.5 Sensores -- 2.6 Segmentación y clasificación de defectos -- 2.7 Descripción de defectos -- 3. Metodología de evaluación de sistemas de escáner para la detección de defectos superficiales -- 3. Metodología de evaluación de sistemas de escáner para la detección de defectos superficiales -- 4. Comentarios finales -- Bibliografía -- Anexo 1: Empresas proveedoras de estas tecnologías | |
| infor.numeroserie | 152 | |
| infor.politica.web | 0 |
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